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一种DAC误差测量方法及装置 

申请/专利权人:华为技术有限公司

申请日:2018-01-26

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN112671404B

主分类号:H03M1/10

分类号:H03M1/10

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.25#授权;2021.05.04#实质审查的生效;2021.04.16#公开

摘要:本申请公开了一种DAC误差测量方法及装置,包括:ADC和反馈DAC,ADC的测量输入包括固定频率的方波信号、固定逻辑电平的直流信号和反馈DAC的模拟输出;测量选择模块用于向被单独选择的源单元提供数字输出中的测量数字,向剩余源单元提供数字输出的剩余数字,测量数字为可翻转数字,剩余数字为不翻转数字;测量模块用于根据数字输出测量数字输出的幅值。由于数字输出中的一路翻转数字为测量数字,剩余数字为不翻转数字,使得测量选择模块可以单独选择出一个源单元接收测量数字,达到被选择的源单元在误差测量时不会引入其他源单元的匹配误差,再加上直流信号为恒定电平,误差测量都是在同一偏置条件下,从而有利于提升误差测量精度。

主权项:1.一种ADC电路,其特征在于,包括:ADC,用于对所述ADC的测量输入进行数字化,生成数字输出,所述数字输出作为测量选择模块的输入,其中,所述ADC包括反馈DAC,所述测量输入包括固定频率的方波信号、固定逻辑电平的直流信号和所述反馈DAC的模拟输出;所述测量选择模块,用于根据所述数字输出,为所述反馈DAC提供输入,其中,所述反馈DAC包括P个源单元,所述测量选择模块,用于向所述P个源单元中被单独选择的源单元提供所述数字输出中的测量数字,向剩余源单元提供所述数字输出中的剩余数字,所述测量数字为可翻转数字,所述剩余数字为不翻转数字;所述反馈DAC,根据所述测量选择模块提供的输入,向所述ADC提供所述模拟输出。

全文数据:

权利要求:

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