申请/专利权人：成都考拉悠然科技有限公司

申请日：2024-04-18

公开（公告）日：2024-06-25

公开（公告）号：CN118067741B

主分类号：G01N21/95

分类号：G01N21/95;G01N21/01

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.25#授权;2024.06.11#实质审查的生效;2024.05.24#公开

摘要：本发明公开了基于光度立体法的Mini‑LED胶面缺陷检测方法，在工业相机的周侧设置环形多区光源，将待测Mini‑LED支架放置在工业相机的下方，待测Mini‑LED支架与工业相机之间设置镂空压网，在待测Mini‑LED支架的下方设置背光光源。将待测Mini‑LED支架顶升至镂空压网的底部，通过镂空压网展平待测Mini‑LED支架；所述环形多区光源分时频闪照明，工业相机分时获取待测Mini‑LED支架的多个角度的打光图像；然后，基于图像融合获取图像的法向量信息，进而获取Mini‑LED颗粒的胶面纹理特征信息。本发明提升了各Mini‑LED颗粒在支架上的平整度，降低甚至消除背景信息对胶面检测信息的干扰，能充分还原胶面纹理状态，检测极轻微胶面缺陷，具有较好的实用性。

主权项：1.基于光度立体法的Mini-LED胶面缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：在工业相机的周侧设置环形多区光源，将待测Mini-LED支架放置在工业相机的下方，待测Mini-LED支架与工业相机之间设置镂空压网，在待测Mini-LED支架的下方设置背光光源；步骤S2：将待测Mini-LED支架顶升至镂空压网的底部，通过镂空压网展平待测Mini-LED支架；步骤S3：点亮背光光源，设置背光光源的亮度等级为160-255，且背景区域的成像饱和度为95%-120%；步骤S4：所述环形多区光源分时频闪照明，工业相机分时获取待测Mini-LED支架的多个角度的打光图像；然后，基于图像融合获取图像的法向量信息，进而获取Mini-LED颗粒的胶面纹理特征信息；步骤S401：基于Sobel算子对灰度图像进行梯度计算，从x和y方向分别计算图像中每个像素点的梯度；步骤S402：根据步骤S401计算得到的梯度信息，估计每个像素点的法向量；使用中心差分法，通过计算梯度的偏导数来估计法线的x，y，z分量；步骤S403：法线映射：将估计得到的法向量映射到RGB色空间；将法线的x、y、z分量映射到RGB的红、绿、蓝通道上；步骤S404：根据步骤S403映射得到的法线信息，生成NorMix图像，获取到Mini-LED颗粒胶面的纹理融合信息。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 成都考拉悠然科技有限公司 基于光度立体法的Mini-LED胶面缺陷检测方法

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