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申请/专利权人：深圳市华宇福保半导体有限公司
申请日：2021-09-10
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN113778770B
主分类号：G06F11/22
分类号：G06F11/22
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.25#授权;2021.12.28#实质审查的生效;2021.12.10#公开
摘要：本申请涉及一种用于硬盘芯片的检测方法及系统，其中方法包括：接收通讯板连接信号；根据连接信号，获取预设通讯板中预设的测试信息，所述测试信息包括硬盘芯片的读写传输速度测试指令、COPY速度测试指令；调用测试应用窗口，配置测试信息至测试应用窗口；接收硬盘连接信号；响应测试请求，所述测试请求用于根据测试信息对硬盘同步测试；生成测试结果并显示于测试应用窗口。本申请具有实现同步测试硬盘芯片的不同参数，提升硬盘芯片的检测效率的效果。
主权项：1.一种用于硬盘芯片的检测方法，其特征在于，包括：接收通讯板连接信号；根据连接信号，获取预设通讯板中预设的测试信息，所述测试信息包括硬盘芯片的读写传输速度测试指令、COPY速度测试指令；调用测试应用窗口，配置测试信息至测试应用窗口；接收硬盘连接信号；响应测试请求，根据测试信息对硬盘同步测试；生成测试结果并显示于测试应用窗口；获取预设检测参数；获取测试结果中的实际检测参数；判断实际检测参数是否异于预设检测参数；若判断结果为是，则生成异常提示信号，并反馈至测试应用窗口；根据异常提示信号，获取测试结果中异常的实际检测参数；计算异常的实际检测参数与对应预设检测参数的异常差值；获取预设误差值；判断异常差值是否超出预设误差值；若判断为是，则标记硬盘不合格信号；若判断为否，则生成调试指示；在判断为否的前提下，接收调试完成信号，重新对硬盘同步测试，并判断实际检测参数是否异于预设检测参数；若判断结果为否，则生成正常提示信号，并反馈至测试应用窗口。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市华宇福保半导体有限公司 一种用于硬盘芯片的检测方法及系统
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