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申请/专利权人：上海机电工程研究所
申请日：2024-04-02
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN118261950A
主分类号：G06T7/33
分类号：G06T7/33;G06V10/75;G06T7/13
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.28#公开
摘要：本发明提供了一种基于改进随机采样一致性算法的异源图像配准方法和系统，包括：步骤1：对红外与可见光异源图像进行图像预处理；步骤2：对预处理后的图像进行基于相位一致性的边缘提取，得到多对粗特征点；步骤3：建立特征点匹配库，基于改进随机采样一致性算法迭代优化粗特征点，不断更新特征点匹配库，输出精配准点。本发明能够实现异源不同分辨率图像特征信息的准确定位，实现异源图像的精确配准，具有重要的工程应用价值。
主权项：1.一种基于改进随机采样一致性算法的异源图像配准方法，其特征在于，包括：步骤1：对红外与可见光异源图像进行图像预处理；步骤2：对预处理后的图像进行基于相位一致性的边缘提取，得到多对粗特征点；步骤3：建立特征点匹配库，基于改进随机采样一致性算法迭代优化粗特征点，不断更新特征点匹配库，输出精配准点。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海机电工程研究所 基于改进随机采样一致性算法的异源图像配准方法和系统
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