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确定地层中材料的存在和深度 

申请/专利权人:特拉塞技术有限责任公司

申请日:2022-06-17

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118265925A

主分类号:G01V3/30

分类号:G01V3/30;G01V3/12;G01V3/10;E21B47/04;E21B47/13

优先权:["20210618 US 63/212,590"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:公开了一种用于确定材料深度的方法。该方法包括在一位置处从天线传输信号。该信号包含基频,并且该信号穿透该位置下的地面。该位置被选择以定位该位置下一定深度处的材料。该基频与该材料的分子的谐振原子的已知谐振频率匹配。该方法包括:在该天线上检测该反射波,确定传输该信号和在该天线上检测到该反射波之间的时间差,并且基于该时间差和对应于该谐振原子的反射速度来确定该材料的该深度。

主权项:1.一种方法,所述方法包括:在一位置处从天线传输信号,所述信号包含基频,所述信号穿透所述位置下的地面,所述位置被选择以定位所述位置下一定深度处的材料,所述基频与所述材料的分子的谐振原子的已知谐振频率匹配;在所述天线上检测反射波;确定传输所述信号和在所述天线上检测到所述反射波之间的时间差;以及基于所述时间差和对应于所述谐振原子的反射速度来确定所述材料的所述深度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 特拉塞技术有限责任公司 确定地层中材料的存在和深度

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