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申请/专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日：2021-08-13
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN113740705B
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.28#授权;2021.12.21#实质审查的生效;2021.12.03#公开
摘要：本发明实施例所提供的确定芯片测试工况的方法、装置及相关设备，所述方法包括：获取测试芯片；循环执行预设测试工况下对所述测试芯片的测试和筛选，直至循环预设轮次；其中，对所述测试芯片的测试用于确定所述测试芯片中的缺陷芯片，对所述测试芯片的筛选用于选取并去除所述测试芯片中的缺陷芯片；根据所述预设轮次下确定的缺陷芯片的统计数据，判断所述缺陷芯片的统计数据是否符合缺陷芯片在相应轮次的检出规律；若所述缺陷芯片的统计数据符合缺陷芯片在相应轮次的检出规律，确定所述预设测试工况为备选测试工况，从而准确地确定出备选测试工况。
主权项：1.一种确定芯片测试工况的方法，其特征在于，包括：获取测试芯片；循环执行预设测试工况下对所述测试芯片的测试和筛选，直至循环预设轮次；其中，对所述测试芯片的测试用于确定所述测试芯片中的缺陷芯片，对所述测试芯片的筛选用于选取并去除所述测试芯片中的缺陷芯片；所述预设轮次中，位于测试初期的至少一个轮次为第一轮次组，位于测试后期的多个轮次为第二轮次组；根据所述预设轮次下确定的缺陷芯片的统计数据，判断所述缺陷芯片在第一轮次组的失效率是否大于所述第二轮次组的失效率；若是，判断所述测试芯片在第二轮次组的失效率是否趋近于0；若是，则所述缺陷芯片的统计数据符合缺陷芯片在相应轮次的检出规律；若所述缺陷芯片的统计数据符合缺陷芯片在相应轮次的检出规律，确定所述预设测试工况为备选测试工况。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 海光信息技术股份有限公司 一种确定芯片测试工况的方法、装置及相关设备
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