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一种测试机多机台并线作业方法及光学测试装置 

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申请/专利权人:厦门普诚半导体科技有限公司

摘要:本发明提供了一种测试机多机台并线作业方法及光学测试装置,包括多个测试机和移载模组,还包括以下步骤:步骤S1、多个测试机通过移载模组并联在一起;步骤S2、待侧测产品上料至移载模组;步骤S3、将产品送至任意一台测试机测试;步骤S4、结果合格排料至移载模组送至合格区;不良在该测试机内进行第一次复测;步骤S5、复测结果合格排料至移载模组送至合格区;不良产品排料至空闲测试机;步骤S6、在空闲测试机进行第二次复测;步骤S7、二次复测结果合格排料输送至合格区;不良排料至不良品区。通过多组测试机并线缩减测试周期满足产能需求;单品在线常规测试一次、至多测试三次,排除机器自身问题干扰检测结果,同时减少后期不良品人工复检工作量。

主权项:1.一种测试机多机台并线作业方法,包括多个测试机和移载模组,其特征在于,还包括以下步骤:步骤S1、将多个所述测试机通过移载模组并联在一起;步骤S2、将待侧测的产品上料至所述移载模组;步骤S3、由所述移载模组将产品输送至任意一台所述测试机进行第一次测试;步骤S4、当第一次测试结果合格时,该测试机将产品排料至所述移载模组,经由所述移载模组输送至合格区;当第一次测试结果为不良时,在该测试机内进行第一次复测;步骤S5、当第一次复测结果合格时,该测试机将产品排料至所述移载模组,经由所述移载模组输送至合格区;当第一次复测结果不良时,该测试机将产品排料至所述移载模组,经由所述移载模组输送至其余任一空闲测试机;步骤S6、在该空闲的测试机进行第二次复测;步骤S7、当第二次复测结果合格时步骤S6中的测试机排料至所述移载模组,并由所述移载模组送至合格区;当第二次复测结果不良时步骤S6中的测试机排料至所述移载模组,并由所述移载模组送至不良品区,方便后期人工处理复检。

全文数据:

权利要求:

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