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老化测试方法、老化测试系统及电子设备 

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申请/专利权人:上海华岭申瓷集成电路有限责任公司

摘要:本发明提供一种老化测试方法,包括以下步骤:设置老化测试温度值;加热被测器件;获取被测器件的温度检测值及实时工作功率;根据所述温度检测值、预设的温度设定值以及所述被测器件的实时工作功率,调整针对所述被测器件的加热功率和散热功率,以使所述被测器件的所述温度检测值被控制在预设温度允许的波动范围内。本发明可以通过实时采集所述被测器件在老化测试过程中的温度检测值以及所述被测器件的实时工作功率,并以此作为反馈条件调节对所述被测器件的加热功率或散热功率,以实现对所述被测器件的老化测试温度的闭环精确控制。

主权项:1.一种老化测试方法,其特征在于,包括以下步骤:设置老化测试的温度设定值;加热被测器件;获取被测器件的温度检测值;获取所述被测器件的实时工作功率;根据所述温度检测值、实时工作功率以及预设的温度设定值,调整针对所述被测器件的加热功率和散热功率,以使所述被测器件的所述温度检测值被控制在预设范围内。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海华岭申瓷集成电路有限责任公司 老化测试方法、老化测试系统及电子设备

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