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申请/专利权人：中国地质科学院地质力学研究所

摘要：本发明公开了一种基于LA‑ICP‑MS原位微区面扫描的裂变径迹定年方法，属于地球化学、同位素定年技术领域。该方法获得238U含量对比单点剥蚀技术有几个方面的优势：原位微区面扫描获得元素的二维分布图，有效剔除包裹体等异常数据的干扰；原位微区面扫描分析通过线剥蚀样品表面的物质，有效减弱剥蚀深度带来的分馏效应；提高了分析效率，不需要二次选点再次进行单点分析实验，避免了单点分析中选点位置难题；U元素含量准确度提高，尤其对于裂变径迹年龄年轻的样品和含有U分带的样品；节省分析时间，数据处理相对容易；既能准确测试年轻或还有U分带的样品，也不需要进行照射，快速测得年龄数据，同时能获得其他微量元素的数据。

主权项：1.一种基于LA-ICP-MS原位微区面扫描的裂变径迹定年方法，该方法具体包括：S1、标样及样品制靶：基于每种矿物由于其矿物特性不同而相应的制靶方式也不同，选不仅限于磷灰石样品或锆石样品完成将标样和样品分别进行制靶；S2、将标样靶和样品靶分别进行蚀刻，揭露自发径迹；S3、标样及样品自发径迹统计：在显微镜下对标样和样品分别进行自发径迹的统计，得到径迹密度；S4、超声波清洗样品靶；S5、根据颗粒的大小定义实验的进行的矩形区域，具体实施定义操作流程：S51、根据矿物的大小，绘制区域的边长从200μm到2mm不等；S52、根据区域大小定义3-4条水平的栅格线，数据主要根据这3-4条栅格线获得；S53、根据水平的栅格线从左到右逐步平移方形激光孔径来进行连续激光剥蚀，并同时使用消蚀重叠来确保连续性，生成均匀烧蚀线；S6、样进行原位微区面扫描，得到校正参数等：校正采用内外标联用的方法，以不同238U含量的磷灰石或锆石标样和NIST612或NIST610作为外标，Ca或Si作为内标进行校正；选择U含量均匀的磷灰石或锆石标样和NIST612或NIST610进行原位微区面扫描，来得到校正参数，用于对测量样品含量进行校正；S7、样品进行原位微区面扫描，并通过标样得到的校正参数进行数据校正：对样品进行原位微区面扫描，标准物质采用磷灰石或锆石标样作为校正标准，同时采用NIST610或612标准玻璃作为监测标样，测试顺序是NIST610612-标样-待测样品-NIST610612，测试实验条件完全相同，然后通过标样得到的校正参数进行数据校正；S8、获得样品的238U含量分布；S9、用于计算238U含量的区域选择；S10、确定定年区域平均238U含量；S11、计算年龄。

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