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一种材料全偏振反射矩阵测量系统及方法 

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申请/专利权人:长春理工大学

摘要:本发明涉及偏振图像重建技术领域,具体为一种材料全偏振反射矩阵测量系统及方法,用于采集和测量不同材料的标准球体样本,获得材料偏振反射率,以建立材料的全偏振反射矩阵,该矩阵可用于材料偏振特性分析和偏振图像重建。系统包括偏振光发生装置、偏振图像采集装置、标准球体样本固定柱、旋转装置、控制及数据处理装置。本发明基于双旋转波片法计算不同材料的标准球体的Mueller矩阵。通过转台旋转,可获得全角度的偏振图像数据;通过滤光转轮旋转,可获得不同波长的偏振图像数据;通过波片旋转轮的角度旋转,得到不同偏振状态下的图像数据;通过结合材料的偏振特性和标准球体样本的几何特性对图像数据进行分析,计算获得材料的全偏振反射矩阵。

主权项:1.一种材料全偏振反射矩阵测量系统,其特征在于:包括偏振光发生装置(1)、偏振图像采集装置(2)、标准球体样本固定柱(3)、旋转装置(4)、控制及数据处理装置(5);所述偏振光发生装置(1)包括光源(11)、偏振片Ⅰ(12)和波片旋转轮Ⅰ(13),通过旋转波片旋转轮Ⅰ(13)改变慢轴角度;所述偏振图像采集装置(2)包括滤光转轮(21)、波片旋转轮Ⅱ(22)、偏振片Ⅱ(23)、相机(24),滤光转轮(21)上安装了个不同波长的滤光片;所述旋转装置(4)包括导轨(41)和转台(42),导轨(41)固定在转台(42)上,并且在转台(42)中轴的位置放置标准球体样本固定柱(3);所述控制及数据处理装置(5)控制偏振光发生装置(1)的波片旋转轮Ⅰ(13)改变入射光的偏振态、控制偏振图像采集装置(2)的滤光转轮(21)和波片旋转轮Ⅱ(22)改变采集波长及检偏角度、控制偏振图像采集装置(2)的相机(24)进行图像采集、控制旋转装置(4)的转台(42)改变旋转角度,并将采集到的图像数据进行处理得到需要的全偏振反射矩阵。

全文数据:

权利要求:

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