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恢复辐射检测器的方法 

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申请/专利权人:深圳帧观德芯科技有限公司

摘要:一种恢复辐射检测器的性能的方法,辐射检测器110包括:辐射吸收层110,配置成吸收入射到其上的辐射粒子,并且基于辐射粒子来生成电信号;电子系统120,配置成处理电信号,电子系统120包括晶体管,晶体管包括栅绝缘体218,其中因栅绝缘体218对辐射的暴露而累积正载流子;该方法包括通过建立跨栅绝缘体218的电场从栅绝缘体218中去除正载流子。

主权项:1.一种恢复辐射检测器的性能的方法,所述辐射检测器包括:辐射吸收层,配置成吸收入射到其上的辐射粒子,并且基于所述辐射粒子来生成电信号,其中,所述辐射吸收层包括半导体材料,所述半导体材料是硅、锗、GaAs、CdTe、CdZnTe或者其组合;电子系统,配置成处理所述电信号,所述电子系统包括晶体管,所述晶体管包括栅绝缘体,其中因所述栅绝缘体对辐射的暴露而累积正载流子;所述方法包括:接收代码;确定所述代码是否有效;通过建立跨所述栅绝缘体的电场从所述栅绝缘体中去除所述正载流子,其中所述正载流子仅当所述代码为有效时才从所述栅绝缘体中去除。

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