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一种回转体扫描测量方法及其数据补偿校准方法 

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申请/专利权人:浙江大学台州研究院

摘要:本发明提供一种回转体扫描测量方法及其数据补偿校准方法,通过倾斜自校,校验上定位锥和下定位锥之间是否对齐,若没有对齐,则进行自动校正,减少扫描误差,保证扫描数据准确;通过对扫描数据进行倾斜补偿和系统误差补偿,对于细微的倾斜误差以及系统误差进行自动补偿,进一步保证数据的准确。

主权项:1.一种回转体扫描过程的数据补偿校准方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1:数据处理装置接收相应指令,并进入倾斜自校模式;步骤S2:扫描装置扫描标准校验棒,结合测距装置,获取扫描数据;步骤S3:数据处理装置根据扫描数据获得标准校验棒在Y-Z平面内的倾斜角度α;步骤S4:根据倾斜角度α,获得标准校验棒在X-Z平面内的倾斜角度β;步骤S5:判断倾斜角度α和倾斜角度β与设定阈值的关系;若大于设定阈值,则对下定位装置的位置调节,并在数据处理装置的显示器上进行显示,返回步骤S1;否则,进入步骤S6;步骤S6:根据倾斜角度α和倾斜角度β获得倾斜补偿校正参数,结束步骤;所述步骤S6中,根据倾斜角度α和倾斜角度β还获得系统补偿校正参数,系统补偿校正参数用于补偿系统误差;系统补偿校正参数包括水平误差补偿以及高度误差补偿。

全文数据:

权利要求:

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