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一种预测电子雷管失效概率的方法及系统 

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申请/专利权人:深圳雪峰电子有限公司

摘要:本发明涉及电子技术领域,尤其涉及一种预测电子雷管失效概率的方法及系统。该方法包括以下步骤:获取电子雷管传感数据,并进行雷管潮湿区域标记,获得潮湿区域划分模型;对电子雷管模型进行雷管电气异常区域标记,获得异常区域划分模型;对潮湿区域划分模型以及异常区域划分模型进行物理耦合模拟,获得电子雷管模拟数据,并进行失效性评估,获得电子雷管失效性数据;基于电子雷管失效性数据以及电子雷管模拟数据构建电子雷管失效预测模型;通过电子雷管失效预测模型对电子雷管传感数据进行电子雷管失效概率预测,从而获得电子雷管失效概率数据。本发明能提高对电子雷管失效概率预测的准确性。

主权项:1.一种预测电子雷管失效概率的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:获取电子雷管设计数据,并对电子雷管设计数据进行结构特征提取以及材料特征提取,从而获得电子雷管结构数据以及电子雷管材料数据;根据电子雷管结构数据构建电子雷管三维模型,并根据电子雷管材料数据对电子雷管三维模型进行结构材料特性映射,从而获得电子雷管模型;步骤S2:获取电子雷管传感数据,对电子雷管传感数据进行电子雷管潮湿性评估,从而获得电子雷管潮湿性数据,并根据电子雷管潮湿性数据对电子雷管模型进行雷管潮湿区域标记,从而获得潮湿区域划分模型;步骤S3:通过电子雷管模型对电子雷管传感数据进行电气性能评估,从而获得电子雷管电气性能数据,并根据电子雷管电气性能数据对电子雷管模型进行雷管电气异常区域标记,从而获得异常区域划分模型,步骤S3具体为:步骤S31:对电子雷管传感数据进行电气传感特征提取,从而获得电子雷管电气传感数据;步骤S32:通过电子雷管模型对电子雷管电气传感数据进行电气性能模拟,从而获得电气性能模拟数据;步骤S33:对电气性能模拟数据进行频域变换,从而获得电气性能模拟频谱;步骤S34:对电气性能模拟频谱进行振幅特征提取,从而获得电气性能频谱振幅数据,并对电气性能频谱振幅数据进行异常振幅分类计算,从而获得正常频谱振幅数据以及异常频谱振幅数据;步骤S35:根据异常频谱振幅数据对电气性能模拟频谱进行异常频段提取,从而获得异常电气性能频谱;根据正常频谱振幅数据对电气性能模拟频谱进行正常频段提取,从而获得正常电气性能频谱;步骤S36:对异常电气性能频谱以及正常电气性能频谱分别进行时域转换,从而获得异常电气性能数据以及正常电气性能数据,并对异常电气性能数据以及正常电气性能数据进行数据合并,从而获得电子雷管电气性能数据;步骤S37:对电子雷管电气传感数据进行传感空间特征提取,从而获得电气传感器空间数据;步骤S38:对电气传感器空间数据以及电子雷管电气性能数据进行异常电气空间关联,从而获得异常电气空间数据;步骤S39:根据异常电气空间数据对电子雷管模型进行雷管电气异常区域标记,从而获得异常区域划分模型;步骤S4:对潮湿区域划分模型以及异常区域划分模型进行物理耦合模拟,从而获得电子雷管模拟数据,并基于电子雷管模拟数据进行电子雷管失效性评估,从而获得电子雷管失效性数据;步骤S5:基于电子雷管失效性数据以及电子雷管模拟数据构建电子雷管失效预测模型;通过电子雷管失效预测模型对电子雷管传感数据进行电子雷管失效概率预测,从而获得电子雷管失效概率数据。

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