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申请/专利权人：北京怀柔实验室;西安交通大学;北京智慧能源研究院
摘要：本申请涉及一种双层绝缘界面晶体形态及其形成过程的观测方法及观测设备。所述观测方法包括：获取第一绝缘片和第二绝缘片，将第一绝缘片和第二绝缘片平行压合于载玻片与盖玻片之间以获得待观测件；将待观测件放置于温控器件，并控制温控器件按照预设温控参数对待观测件进行温控，以使第一绝缘片和第二绝缘片完成结晶过程；提供偏光显微镜，将偏光显微镜调至偏振光模式；通过偏光显微镜在温控过程中观察第一绝缘片与第二绝缘片相接界面的结晶形态。所述观测方法能够实现对两绝缘片相接界面结晶形态的动态观测，观测结果清晰，且操作步骤简单易于实施。
主权项：1.一种双层绝缘界面的观测设备，其特征在于，包括：制样装置，包括载玻片和盖玻片；第一绝缘片和第二绝缘片平行紧邻放置，并压合于所述载玻片与所述盖玻片之间；温控平台，用于承载所述制样装置；所述温控平台包括温控器件，所述温控器件按照预设温控参数对所述待观测件进行温控；偏光显微镜，具有偏振光模式；所述偏光显微镜采用所述偏振光模式观察所述第一绝缘片与所述第二绝缘片相接界面的晶体形态及其形成过程。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京怀柔实验室 西安交通大学 北京智慧能源研究院 双层绝缘界面晶体形态及其形成过程的观测方法及观测设备
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