买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

申请/专利权人：安徽中科天立泰技术有限公司

摘要：本发明公开了一种宽分布光源荧光光谱散射信号定向筛选系统及方法，该系统包括：荧光数据获取单元，用于获取含有宽分布散射信号的原始荧光数据；拟合范围确定单元，用于对获取的原始荧光数据进行预处理，并通过拐点找寻法确定原始荧光数据的拟合范围；去散射处理单元，用于通过加权最小二乘法结合空白光谱计算拟合系数，并根据拟合系数及原始荧光数据的拟合范围，通过对原始荧光数据去散射处理；插值补充单元，用于根据得到的荧光光谱，采用指数函数差值法进行插值补充，得到最终的光谱数据。本发明通过解决数据重叠问题，可以允许光谱仪直接使用LED等宽分布光源而无需单色器或窄带通滤波片，有效节省了仪器成本和设计难度。

主权项：1.一种宽分布光源荧光光谱散射信号定向筛选系统，其特征在于，该宽分布光源荧光光谱散射信号定向筛选系统包括：荧光数据获取单元、拟合范围确定单元、去散射处理单元及插值补充单元；所述荧光数据获取单元，用于获取含有宽分布散射信号的原始荧光数据；所述拟合范围确定单元，用于对获取的原始荧光数据进行预处理，并通过拐点找寻法确定原始荧光数据的拟合范围；所述去散射处理单元，用于通过加权最小二乘法结合空白光谱计算拟合系数，并根据拟合系数及原始荧光数据的拟合范围，通过对原始荧光数据去散射处理，得到荧光光谱；所述插值补充单元，用于根据得到的荧光光谱，采用指数函数差值法进行插值补充，得到最终的光谱数据；所述拟合范围确定单元包括：数据点判断模块、过曝光处理模块、寻找拐点模块及拟合范围设置模块；所述数据点判断模块，用于判断原始荧光数据中散射波长的预设范围内是否存在超过光谱仪检测器检测阈值的数据点；所述过曝光处理模块，用于在所述数据点判断模块判断出存在超过光谱仪检测器检测阈值的数据点时，将超过光谱仪检测器检测阈值的数据点进行删除，若不存在，则不进行删除处理；所述寻找拐点模块，用于根据原始荧光数据的过曝光处理结果，通过拐点找寻法找寻拐点；所述拟合范围设置模块，用于根据找寻的拐点，将拟合范围设置为原始荧光数据中最小波长到拐点之间的所有信号；所述去散射处理单元包括：拟合系数计算模块及荧光光谱计算模块；所述拟合系数计算模块，用于根据确定的拟合范围，确定空白光谱和原始荧光数据中拟合范围内的所有信号，并通过局部加权回归方法计算拟合系数；所述荧光光谱计算模块，用于根据拟合系数，通过去散射计算公式计算去散射后的荧光光谱；所述根据确定的拟合范围，确定空白光谱和原始荧光数据中拟合范围内的所有信号，并通过局部加权回归方法计算拟合系数包括：选取预先设定的空白光谱，并根据确定的拟合范围，分别选取空白光谱和原始荧光数据中拟合范围内的所有信号；根据空白光谱中拟合范围内的所有信号，计算权重矩阵；根据权重矩阵及空白光谱和原始荧光数据中拟合范围内的所有信号，计算拟合系数。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 安徽中科天立泰技术有限公司 一种宽分布光源荧光光谱散射信号定向筛选系统及方法