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申请/专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
摘要：本发明公开了一种条纹结构光的参数确定方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取目标物体的标准视差图；在检测到随机条纹结构光投射至目标物体时，获取目标物体的第一视差图；根据所述第一视差图和标准视差图生成的目标函数调整所述随机条纹结构光的参数，直至所述目标函数收敛，得到目标条纹结构光对应的参数。通过本发明的技术方案，能够根据使用场景确定条纹结构光的参数，生成具有场景自适应特点的结构光和相应的匹配算法。
主权项：1.一种条纹结构光的参数确定方法，其特征在于，包括：获取目标物体的标准视差图；在检测到随机条纹结构光投射至目标物体时，获取目标物体的第一视差图；根据所述第一视差图和标准视差图生成的目标函数调整所述随机条纹结构光的参数，直至所述目标函数收敛，得到目标条纹结构光对应的参数；所述目标函数为： errd,g[j]＝|d[j]-g[j]|；其中，‖·‖1为L1范数，Θ为样本集合所包含的行索引，t为样本，T为样本数，softmax为归一化指数函数，τ为温度系数，index为索引向量，0为零向量；d为第一视差图，g为目标视差图，j为视差图像素点纵坐标。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 一种条纹结构光的参数确定方法、装置、设备及存储介质
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