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申请/专利权人：季华实验室

摘要：本发明涉及图像识别技术领域，尤其涉及试卷区域的识别方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：将待识别试卷图像输入至分割模型中，得到多张试卷掩膜图像，并从中选取预处理掩膜图像；拟合预处理掩膜图像的最小外接矩形，并确认拟合角点信息；将待识别试卷图像输入至尺寸识别模型中，得到待识别试卷图像的尺寸信息；根据拟合角点信息以及尺寸信息确认旋转角，并根据旋转矩阵和旋转角对预处理掩膜图像进行旋转复原，得到复原后掩膜图像；判断复原后掩膜图像的拟合轮廓是否为矩形，若是，基于透视变换将复原后掩膜图像复原至待识别试卷图像；本申请公开的方法，可有效识别网络预测中可能出现的极端情况，并通过旋转和畸变矫正复原试卷区域。

主权项：1.一种试卷区域的识别方法，其特征在于，包括：获取待识别试卷图像，将待识别试卷图像输入至预构建的分割模型中，得到多张试卷掩膜图像；具体的，获取摄像装置反馈的待识别试卷图像，基于预设的选取规则，从待识别试卷图像中选取六个搜索点；组合六个搜索点得到三个搜索点组，分别为三个搜索点组配置属性标签；将三个搜索点组以及对应的属性标签分别输入至基于EdgeSAM网络构建的分割模型中，得到多张输出图像，每个输出图像对应一个置信度分数；基于输出图像的边缘信息，选取四个置信度分数不同的输出图像作为试卷掩膜图像；从多张试卷掩膜图像中选取预处理掩膜图像；具体的，分别拟合四张试卷掩膜图像的外接矩形，并分别计算外接矩形的面积，得到四个面积计算结果；基于置信度分数、从小到大对四张试卷掩膜图像进行排序，并基于面积计算结果、从小到大对四张掩膜图像进行排序；若置信度分数最高的试卷掩膜图像与外接矩形面积最大的试卷掩膜图像相匹配，则选取置信度分数排序倒数第二的试卷掩膜图像作为预处理掩膜图像；反之，选取置信度分数最大的试卷掩膜图像作为预处理掩膜图像；拟合预处理掩膜图像的最小外接矩形，确认所拟合的最小外接矩形的四个拟合角点以及分别与四个拟合角点对应的四个拟合角点坐标；预构建尺寸识别模型，将待识别试卷图像输入至预构建的尺寸识别模型中，得到待识别试卷图像的尺寸信息；获取预处理掩膜图像的旋转矩阵，根据四个拟合角点坐标以及尺寸信息确认旋转角，并根据旋转矩阵和旋转角对预处理掩膜图像进行旋转复原，得到复原后掩膜图像；拟合复原后掩膜图像的轮廓，并判断拟合后的轮廓是否为矩形，若是，则获取四个复原角点坐标，根据四个复原角点坐标，基于透视变换将复原后掩膜图像复原至待识别试卷图像。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 季华实验室 试卷区域的识别方法、装置、设备及存储介质