龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要：本发明属于高光谱成像技术领域，尤其涉及一种全反射光学系统畸变控制的方法。包括：S1：构建同轴反射式光学系统，并确定同轴反射式光学系统的主光线误差与同轴反射式光学系统的波前畸变系数之间的函数关系；S2：计算同轴反射式光学系统的主光线误差，并根据步骤S1建立的函数关系和主光线误差计算同轴反射式光学系统的畸变值；S3：构建同轴反射式光学系统的Seidel像差系数与同轴反射式光学系统的系统参数之间的多维度非线性方程组；S4：基于步骤S3建立的多维度非线性方程组构建误差函数，并利用差分进化算法和畸变值对误差函数进行求解，获得带有特定畸变值的初始全反射光学系统。本发明能够解决光谱仪的曲线弯曲校正困难的问题。
主权项：1.一种全反射光学系统畸变控制的方法，其特征在于：具体包括如下步骤：S1：构建同轴反射式光学系统，并确定同轴反射式光学系统的主光线误差与同轴反射式光学系统的波前畸变系数之间的函数关系；S2：计算同轴反射式光学系统的主光线误差，并根据步骤S1建立的函数关系和所述主光线误差计算同轴反射式光学系统的畸变值；S3：构建同轴反射式光学系统的Seidel像差系数与同轴反射式光学系统的系统参数之间的多维度非线性方程组；S4：基于步骤S3建立的多维度非线性方程组构建误差函数，并利用差分进化算法和所述畸变值对所述误差函数进行求解，获得带有特定畸变值的初始全反射光学系统。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 全反射光学系统畸变控制的方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号