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一种双轴对接偏差的检测方法、系统和存储介质 

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申请/专利权人:东海实验室

摘要:本申请公开了一种双轴对接偏差的检测方法、系统和存储介质,涉及图像处理技术领域。所述方法包括:获取能够表征所述第一端面和所述第二端面位于焦平面投影中相对位置的视觉平面图;基于椭圆检测算法由所述视觉平面图,获取表征所述第一端面的第一椭圆轮廓曲线和表征所述第二端面的第二椭圆轮廓曲线;基于所述第一椭圆轮廓曲线和所述第二椭圆轮廓曲线,获取对接偏差数据。本申请不会受限于视觉可达性,即便两个轴之间的视觉可达性较小(甚至为0),也能够基于本申请,获取两个轴的对接偏差。

主权项:1.一种双轴对接偏差的检测方法,所述双轴包括第一轴(1)和第二轴(2);所述第一轴(1)的第一端面(12)与所述第二轴(2)的第二端面(22)为相对面;其特征在于,所述方法包括:获取能够表征所述第一端面(12)和所述第二端面(22)位于焦平面投影中相对位置的视觉平面图;基于椭圆检测算法由所述视觉平面图,获取表征所述第一端面(12)的第一椭圆轮廓曲线和表征所述第二端面(22)的第二椭圆轮廓曲线;基于所述第一椭圆轮廓曲线和所述第二椭圆轮廓曲线,获取对接偏差数据;所述对接偏差数据包括角度偏差数据和或位置偏差数据;所述角度偏差数据至少用于表征所述第一轴(1)和所述第二轴(2)轴心线的空间夹角;所述位置偏差数据至少用于表征所述第一端面(12)中心点和所述第二端面(22)中心点的空间距离。

全文数据:

权利要求:

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