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申请/专利权人：北京显芯科技有限公司
摘要：本发明公开一种芯片测试方法和芯片，待测芯片首先接收包括检测模式转换指令、检测时间节点指令和检测信号选择指令的检测指令，然后基于检测模式转换指令和检测时间节点指令，由正常工作模式切换为内部信号检测模式，获取与检测信号选择指令对应的内部信号，最后对获取到的内部信号进行转换后，输出转换得到的目标单比特信号，检测装置根据目标单比特信号判断待测芯片是否满足预设标准。由于本申请实施例中可以对待测芯片的内部信号进行检测，并输出与获取到的内部信号对应的目标单比特信号，因此，在判断芯片是否满足预设标准时，可以基于目标单比特信号确定待测芯片失效的位置，提高芯片测试的准确性。
主权项：1.一种芯片测试方法，其特征在于，该方法包括：接收检测指令，其中，所述检测指令包括检测模式转换指令、检测时间节点指令和检测信号选择指令；基于所述检测模式转换指令和所述检测时间节点指令，由正常工作模式切换为内部信号检测模式；获取与所述检测信号选择指令对应的内部信号；对获取到的所述内部信号进行转换后，输出转换得到的目标单比特信号，检测装置根据所述目标单比特信号判断待测芯片是否满足预设标准。
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百度查询： 北京显芯科技有限公司 一种芯片测试方法和芯片
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