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申请/专利权人：华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
摘要：本发明提供了一种半导体器件的FOWLP封装结构及制作方法，该封装结构包括一个或多个带有焊盘的芯片，芯片非主动面通过DAF膜粘接在载板上，芯片四周的空隙填充介电质材料，介电质层的表面高度低于芯片主动面表面；芯片主动面和介电质层顶部覆盖有第一绝缘层，第一绝缘层表面有重布线层，重布线层通过第一绝缘层的开口与芯片主动面的焊盘连接；第一绝缘层和重布线层上面覆盖第二绝缘层；重布线层焊盘上有凸点下金属层，在凸点下金属层上有凸块，所述凸块通过凸点下金属层、重布线层与芯片主动面焊盘形成电连接。本发明仅用一块载板，采用膜辅助成型塑封技术，芯片间隙介电质填充层厚度可控，一次性到位，省略临时键合（拆键合）所需的材料和相应工艺。
主权项：一种半导体器件的FOWLP封装结构，其特征是，包括一个或多个带有焊盘的芯片，所述芯片的主动面朝上，芯片非主动面通过DAF膜粘接在载板上，载板上芯片四周的空隙填充介电质材料形成介电质层，且所述介电质层的表面高度低于芯片主动面表面；所述芯片主动面和介电质层顶部覆盖有第一绝缘层，第一绝缘层在芯片主动面焊盘上有开口；第一绝缘层表面有重布线层，所述重布线层通过第一绝缘层的开口与芯片主动面的焊盘连接；所述第一绝缘层和重布线层上面覆盖第二绝缘层，第二绝缘层在重布线层焊盘上有开口；重布线层焊盘上有凸点下金属层，在凸点下金属层上有凸块，所述凸块通过凸点下金属层、重布线层与芯片主动面焊盘形成电连接。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 半导体器件的FOWLP封装结构及制作方法
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