申请/专利权人：合芯科技有限公司;北京市合芯数字科技有限公司

申请日：2023-06-21

公开（公告）日：2024-05-07

公开（公告）号：CN116895325B

主分类号：G11C29/12

分类号：G11C29/12;G06F30/333

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.05.07#授权;2023.11.03#实质审查的生效;2023.10.17#公开

摘要：本发明公开了一种数字阵列寄存器的ICG分类方法、测试方法及分类装置，该方法包括：获取数字行列寄存器的设计数据和数字行列寄存器的模型列表；根据设计数据和模型列表，获取数字行列寄存器的各个行列的实际工况数据和各个行列对应的ICG单元列表；基于各个行列的实际工况数据和ICG单元列表，生成ICG组的可读文件。采用本发明实施例，通过设计数据和模型列表，获取数字行列寄存器的行列数据，再基于行列数据对特定的寄存器行列施加翻转信号，从而使存在压降问题的寄存器行列的翻转率与正常工作的行列，避免了直接向所有行列施加翻转信号所导致的无法对有问题的行列进行定位的技术问题。

主权项：1.一种数字阵列寄存器的集成时钟门控ICG分类方法，其特征在于，包括：获取数字行列寄存器的设计数据和所述数字行列寄存器的模型列表；所述设计数据为待测芯片绕线后的设计数据；根据所述设计数据和所述模型列表，获取所述数字行列寄存器的各个行列的实际工况数据和所述各个行列对应的ICG单元列表；其中，所述实际工况数据包括：读写次数和各个行列的翻转顺序；基于所述各个行列的实际工况数据和所述ICG单元列表，生成ICG组的可读文件；所述根据所述设计数据和所述模型列表，获取所述数字行列寄存器的各个行列的实际工况数据和所述各个行列对应的ICG单元列表，包括：根据所述设计数据和所述模型列表，生成所述数字行列寄存器的行列数据；从所述行列数据中获取在所述数字行列寄存器运行时的所述各个行列的读写次数；根据所述行列数据，确定在所述数字行列寄存器运行时的所述各个行列的翻转顺序，并生成所述各个行列对应的ICG单元列表；所述根据所述行列数据，确定在所述数字行列寄存器运行时的所述各个行列的翻转顺序，并获取所述各个行列对应的ICG单元列表，包括：从所述行列数据中读取层次结构模块列表和关键词列表；基于所述层次结构模块列表和关键词列表，获取所述数字行列寄存器的行宽数据；根据所述行宽数据，确定所述各个行列的翻转顺序；根据所述行宽数据，生成所述ICG单元列表；所述根据所述行宽数据，生成所述ICG单元列表，包括：获取所述数字行列寄存器的命名规则和所述数字行列寄存器的字线规则；根据所述行宽数据，确定所述数字行列寄存器在实际工况下进行翻转的预设行列，再根据所述命名规则和所述字线规则，通过追踪方法确定所述预设行列对应的ICG，生成所述ICG单元列表。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 合芯科技有限公司;北京市合芯数字科技有限公司 数字阵列寄存器的ICG分类方法、测试方法及分类装置

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