申请/专利权人：英业达科技有限公司;英业达股份有限公司;英业达集团(天津)电子技术有限公司

申请日：2022-11-16

公开（公告）日：2024-05-17

公开（公告）号：CN118050613A

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.06.04#实质审查的生效;2024.05.17#公开

摘要：一种无JTAG串接测试电路板的DIMM插槽测试系统及其方法，测试电路板的DIMM插接接口插接于待测试电路板的DIMM插槽，CPU依据JTAG信号格式的测试信号生成测试数据或是测试信号，CPU通过差分引脚或是输入输出引脚传输测试数据至指定的CPLD芯片，指定的CPLD芯片记录接收到的数据为测试结果，CPU通过控制引脚传输测试信号至指定的CPLD芯片，指定的CPLD芯片测试电源引脚或是接地引脚以读取与记录电源引脚或是接地引脚的数值为测试结果，CPU生成测试结果读取信号，通过控制引脚传输测试结果读取信号至指定的CPLD芯片以由数据传输引脚取得测试结果并反馈至检测装置。

主权项：1.一种无JTAG串接测试电路板的DIMM插槽测试系统，其包含：待测试电路板，具有联合测试工作群组JTAG连接接口、中央处理器CPU以及至少一双列直插式存储器模块DIMM插槽，每一个DIMM插槽包含有多个电源引脚、多个接地引脚、多个差分引脚以及多个输入输出引脚，所述输入输出引脚中选择部分的引脚作为数据传输引脚，所述输入输出引脚中选择部分的引脚作为控制引脚，所述差分引脚以及部分的所述输入输出引脚与所述CPU形成电性连接；至少一测试电路板，所述测试电路板还包含：DIMM插接接口，插接于所述至少一DIMM插槽其中之一；以及至少一复杂可编程逻辑装置CPLD芯片，与所述DIMM插接接口形成电性连接；测试存取端口TAP控制器，通过所述JTAG连接接口与所述待测试电路板形成电性连接；以及检测装置，与所述TAP控制器形成电性连接；其中，所述检测装置生成测试信号并提供至所述TAP控制器，所述TAP控制器将所述测试信号转换为JTAG信号格式的测试信号并提供至所述CPU，所述CPU依据JTAG信号格式的测试信号生成测试数据或是测试信号，所述CPU通过所述差分引脚或是所述输入输出引脚传输测试数据至指定的所述CPLD芯片，指定的所述CPLD芯片记录接收到的数据为测试结果，所述CPU通过所述控制引脚传输测试信号至指定的所述CPLD芯片，指定的所述CPLD芯片测试所述电源引脚或是所述接地引脚以读取与记录所述电源引脚或是所述接地引脚的数值为测试结果，所述CPU生成测试结果读取信号，通过所述控制引脚传输测试结果读取信号至指定的所述CPLD芯片以由所述数据传输引脚取得测试结果并反馈至所述检测装置。

全文数据：

权利要求：

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