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STR调试的故障确定方法、装置、电子设备及存储介质 

申请/专利权人:龙芯中科技术股份有限公司

申请日:2024-03-20

公开(公告)日:2024-05-28

公开(公告)号:CN118093248A

主分类号:G06F11/07

分类号:G06F11/07;G06F9/4401;G06F11/36

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.06.14#实质审查的生效;2024.05.28#公开

摘要:本发明实施例提供了STR调试的故障确定方法、装置、电子设备及存储介质,涉及计算机技术领域。方法包括:在STR调试存在故障,且板卡不进入STR的状态的情况下,执行STR的软件流程;在所述STR的软件流程出现故障的情况下,确定所述STR调试中存在软件故障;在所述STR的软件流程成功运行的情况下,确定所述STR调试中存在硬件故障。本发明可以方便、快捷的将STR调试中的故障进行明确的区分和定位,避免了无法对STR调试的故障进行定位或分类,导致的无法有效解决故障的问题,可以大幅度降低解决STR故障的难度,提升STR故障解决的效率,进而提升STR调试的效率。

主权项:1.一种STR调试的故障确定方法,其特征在于,所述方法包括:在STR调试存在故障,且板卡不进入STR的状态的情况下,执行STR的软件流程;在所述STR的软件流程出现故障的情况下,确定所述STR调试中存在软件故障;在所述STR的软件流程成功运行的情况下,确定所述STR调试中存在硬件故障。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 龙芯中科技术股份有限公司 STR调试的故障确定方法、装置、电子设备及存储介质

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