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X射线自成像几何标定方法及装置 

申请/专利权人:清华大学

申请日:2021-10-09

公开(公告)日:2024-05-28

公开(公告)号:CN113892960B

主分类号:A61B6/58

分类号:A61B6/58

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.05.28#授权;2022.01.25#实质审查的生效;2022.01.07#公开

摘要:本申请提出一种X射线自成像几何标定方法及装置,方法包括:在待成像目标物从多个角度接受X射线扫描的同时,确定至少一个标识在多个角度下的投影位置;根据至少一个标识在多个角度下的投影位置计算多个角度下X射线源、探测器和至少一个标识的位置;根据多个角度下X射线源、探测器和至少一个标识的位置进行X射线自成像几何标定。本申请的实施例通过在被成像目标物表面固定标识的方式,直接由标识上的标识参考点在所有X射线投影位置实现光源、探测器和被成像物体三者之间关系的自成像几何标定方法,不需要额外的视觉标定系统,大幅简化了标定的流程和操作复杂度,还可以同时标定光源和探测器相对位置,校正由于系统自身偏移造成的重建偏差。

主权项:1.一种X射线自成像几何标定方法,其特征在于,目标物上设置有至少一个标识,其中,方法包括以下步骤:在待成像目标物从多个角度接受X射线扫描的同时,确定所述至少一个标识在多个角度下的投影位置;根据所述至少一个标识在多个角度下的投影位置计算多个角度下X射线源、探测器和所述至少一个标识的位置;以及根据所述多个角度下X射线源、探测器和所述至少一个标识的位置进行X射线自成像几何标定;位置信息的计算公式为: 其中,sk为光源的空间坐标,k为扫描角度,Rk为第k个角度下,标识点坐标相对初始位置的三维转动矩阵,Bk为第k个角度下,标识点坐标相对初始位置的三维平移矩阵,为第m个标识点的初始坐标,为第m个标识点在第k个角度下经X射线源扫描后在探测器上的投影点的坐标,I为单位矩阵,0为零矩阵;位置信息的计算公式中的待求解位置量为sk,Rkk≠0,Bkk≠0,共计3K+6K-6+3M=9K+3M-6个,方程组数量为2KM,令2KM9K+3M-6,对位置信息的计算公式进行求解。

全文数据:

权利要求:

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