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【发明公布】金手指缺陷复核方法、装置、设备及存储介质_上海感图网络科技有限公司_202410117329.X 

申请/专利权人:上海感图网络科技有限公司

申请日:2023-06-16

公开(公告)日:2024-05-31

公开(公告)号:CN118115439A

主分类号:G06T7/00

分类号:G06T7/00;G06T7/70;G06T7/62;G01N21/88;G01N21/956

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.06.18#实质审查的生效;2024.05.31#公开

摘要:本申请涉及一种金手指缺陷复核方法、装置、设备及存储介质,应用在金手指缺陷检测领域,其中方法包括:获取待复核的金手指缺陷图像,所述金手指缺陷图像包含若干金手指;识别所述金手指缺陷图像中的缺陷,并生成与所述缺陷对应的缺陷轮廓;确定所述金手指缺陷图像内所述缺陷轮廓所在的目标金手指,并生成与所述目标金手指对应的金手指轮廓;根据所述缺陷轮廓相对于金手指轮廓的具体位置确定卡规;根据所述卡规复核所述缺陷的类型,所述缺陷的类型包括允收缺陷和拒收缺陷。本申请具有的技术效果是:降低了金手指缺陷检测时的过检率。

主权项:1.一种金手指缺陷复核方法,其特征在于,所述方法包括:获取待复核的金手指缺陷图像,所述金手指缺陷图像包含若干金手指;识别所述金手指缺陷图像中的缺陷,并生成与所述缺陷对应的缺陷轮廓;确定所述金手指缺陷图像内所述缺陷轮廓所在的目标金手指,并生成与所述目标金手指对应的金手指轮廓;根据所述缺陷轮廓相对于金手指轮廓的具体位置确定卡规;根据所述卡规复核所述缺陷的类型,所述缺陷的类型包括允收缺陷和拒收缺陷;所述根据所述缺陷轮廓相对于金手指轮廓的具体位置确定卡规包括:将所述金手指轮廓内相互平行的对边所在的线段方向设定为y方向,将与y方向相互垂直的方向设定为x方向;确定所述缺陷区域沿y方向上间距最大的两个端点,沿x方向做两条分别穿过两个所述端点的平行线;将两个所述平行线之间与所述金手指轮廓重叠的区域设定为复核区域;根据复核区域沿x方向的间距及预设的卡规系数确定卡规。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海感图网络科技有限公司 金手指缺陷复核方法、装置、设备及存储介质

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