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一种具有掩埋式场限环的碳化硅器件接地方法 

申请/专利权人:复旦大学

申请日:2024-03-01

公开(公告)日:2024-06-11

公开(公告)号:CN118173601A

主分类号:H01L29/78

分类号:H01L29/78;H01L29/06

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.06.28#实质审查的生效;2024.06.11#公开

摘要:本发明公开一种具有掩埋式场限环的碳化硅器件接地方法。该方法包括以下步骤:进行网格状元胞版图设计,使具有掩埋式场限环的碳化硅元胞呈现网格状排列;对元胞实行交叉节点分布式接地或分段分布式接地,以减小器件的特征尺寸,降低器件单位面积电阻。该方法能够显著减小器件的特征尺寸,提升器件元胞密度及反向续流能力。

主权项:1.一种具有掩埋式场限环的碳化硅器件接地方法,其特征在于,包括以下步骤:进行网格状元胞版图设计,使具有掩埋式场限环的碳化硅元胞呈现网格状排列;对元胞实行交叉节点分布式接地或分段分布式接地,以减小器件的特征尺寸,降低器件单位面积电阻。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 复旦大学 一种具有掩埋式场限环的碳化硅器件接地方法

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