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【发明公布】晶体管装置及其制备方法、电子器件_华为技术有限公司_202180103907.9 

申请/专利权人:华为技术有限公司

申请日:2021-12-06

公开(公告)日:2024-06-14

公开(公告)号:CN118202472A

主分类号:H01L29/786

分类号:H01L29/786;H10B53/30;H10B12/00

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.14#公开

摘要:本申请提供了一种晶体管装置及其制备方法、电子器件。该晶体管装置包括衬底结构以及设置于衬底结构上的沟道层、第一电极和电极结构;第一电极与电极结构隔离;电极结构包括沿第一方向排布的至少两个电极层,任意两个相邻的电极层之间电隔离,第一方向垂直于衬底结构;沿第一方向,至少两个电极层包括交替排布的至少一个源极和至少一个漏极;当源极和漏极均为至少两个,任意两个源极之间电连接,任意两个漏极之间电连接;沟道层位于第一电极与电极结构之间,且沟道层与任意一个电极层接触。该晶体管装置在不增加器件单元面积的基础上,通过增加电极层可以获得多个等效沟道,提高整个晶体管装置的有效沟道宽度以提高器件的输出电流。

主权项:一种晶体管装置,其特征在于,包括:衬底结构以及设置于所述衬底结构上的沟道层、第一电极和电极结构;所述电极结构包括沿第一方向排布的至少两个电极层,任意两个相邻的所述电极层之间电隔离,所述第一方向垂直于所述衬底结构;沿所述第一方向,所述至少两个电极层包括交替排布的至少一个源极和至少一个漏极;当所述源极为至少两个,任意两个所述源极之间电连接;当所述漏极为至少两个,任意两个所述漏极之间电连接;所述沟道层位于所述第一电极与所述电极结构之间,且所述沟道层与任意一个所述电极层接触。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 华为技术有限公司 晶体管装置及其制备方法、电子器件

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