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申请/专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司
摘要：本发明属于自动化治具领域，公开了一种红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置。所述方法为：在红外反射传感器的有效距离处，分别采集不放置DUT和放置DUT时红外反射传感器的输出电压ADC1、ADC2，将[ADC2，ADC1]作为初始电压识别上下限存储到MCU中；根据[ADC2，ADC1]确定期望的电压识别范围Uo；根据电压识别范围Uo校正并更新MCU中的电压识别上下限为[ADC2‑Uo，ADC2+Uo]；根据[ADC2‑Uo，ADC2+Uo]进行DUT放平识别检测。所述装置包括若干个红外反射传感器识别装置，所述红外反射传感器识别装置包括红外反射传感器、电压采集模块、电压校正模块和DUT放平识别模块。本发明能够改善DUT放平识别效果，降低成本，减小占用空间和调试时间，方便配置识别精度。
主权项：1.一种红外反射传感器识别DUT放平校准方法，其特征在于，所述方法包括：在红外反射传感器Q1的有效距离d处，分别采集不放置DUT和放置DUT时红外反射传感器Q1的输出电压ADC1、ADC2，将[ADC2，ADC1]作为初始电压识别上下限存储到MCU中；根据初始电压识别上下限[ADC2，ADC1]确定期望的电压识别范围Uo；根据期望的电压识别范围Uo校正并更新MCU中的电压识别上下限为[ADC2-Uo，ADC2+Uo]；根据校正后的电压识别上下限[ADC2-Uo，ADC2+Uo]进行DUT放平识别检测，具体包括：在红外反射传感器Q1的有效距离d处放置DUT，通过MCU采集红外反射传感器Q1的输出电压；若MCU检测到红外反射传感器Q1的输出电压在MCU的电压识别上下限[ADC2-Uo，ADC2+Uo]范围内，则DUT已放平；若MCU检测到红外反射传感器Q1的输出电压不在MCU的电压识别上下限[ADC2-Uo，ADC2+Uo]范围内，则DUT没有放平；输出上述DUT放平识别检测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市微特精密科技股份有限公司 一种红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置
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