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申请/专利权人：深圳市辰卓科技有限公司
申请日：2023-12-23
公开（公告）日：2024-06-18
公开（公告）号：CN118209836A
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.18#公开
摘要：本申请公开了一种基于MCU架构资源调用的测试方法，应用于测试设备，该测试设备包括MCU模块、多个主控模块和多个与主控模块对应的资源模块，每个资源模块内包括多个测量单元。该方法包括：利用第一主控模块接收来自于上位机的测试指令，当测试指令是电性测试指令时，利用第一主控模块确定测试待测器件DUT所需的测量单元的数量，并向MCU模块发送资源调用请求；利用MCU模块根据资源调用请求将测试设备的所有测量单元进行分组，得到多个测量单元组，利用第一主控模块通过MCU模块控制多个测量单元组中的任意一个测量单元组对该DUT进行测试，通过引入MCU模块，能够高效调度待测器件所需的测试资源。
主权项：1.一种基于MCU架构资源调用的测试方法，应用于测试设备，其特征在于，所述测试设备包括MCU模块、多个主控模块和多个与所述主控模块对应的资源模块，每个所述资源模块内包括多个测量单元；所述方法包括：利用第一主控模块接收来自于上位机的测试指令，所述第一主控模块是所述多个主控模块中的任意一个主控模块；当所述测试指令是电性测试指令时，利用所述第一主控模块确定测试待测器件DUT所需的测量单元的数量，并向所述MCU模块发送资源调用请求；利用所述MCU模块根据所述资源调用请求将所述测试设备的所有测量单元进行分组，得到多个测量单元组，每个所述测量单元组中的测量单元的数量与测试所述DUT所需的测量单元的数量相对应；利用所述第一主控模块通过所述MCU模块控制所述多个测量单元组中的任意一个测量单元组对所述DUT进行测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市辰卓科技有限公司 一种基于MCU架构资源调用的测试方法及测试设备
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