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申请/专利权人：中国科学院半导体研究所
申请日：2024-02-05
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118225390A
主分类号：G01M11/02
分类号：G01M11/02
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本发明涉及激光器光斑测量技术领域，尤其涉及一种全天时激光器远场光斑测试设备及其应用，光电探测单元对远场激光回波进行探测，获得强激光脉冲的时间分布，控制单元控制短波红外相机曝光时间和光电探测单元探测时间，以便更好地对脉冲光斑进行抓取。短波红外相机对远场光斑进行成像探测，获得光斑空间分布信息，长波红外相机对远场背景进行全天时成像探测，与短波红外相机图像叠加后可全天时进行光斑图像成像，数据处理单元处理光电探测单元的激光回波脉冲波形、短波红外相机的成像以及必要时将短波红外相机的成像图片与远场背景进行融合，通过对最终图像进行对比分析，可以实现全天时对激光器的远场光斑、大气能见度和目标反射率等进行评估。
主权项：1.一种全天时激光器远场光斑测试设备，其特征在于，包括：目标靶标1，用于接收激光器2发射的脉冲激光照射而在所述目标靶标1上形成远场光斑；短波红外相机3，用于对所述远场光斑进行成像探测，获得所述远场光斑的空间分布信息；长波红外相机4，用于弱背景光条件下对所述远场光斑的背景进行成像探测；光电探测单元5，用于对所述远场光斑的回波脉冲进行探测，获得回波脉冲的时间分布信息；数据处理单元6，分别连接所述短波红外相机3、所述长波红外相机4和所述光电探测单元5；控制单元7，分别连接所述数据处理单元6、所述短波红外相机3和所述光电探测单元5，用于接收所述数据处理单元6的处理信息并控制所述短波红外相机3和所述光电探测单元5。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院半导体研究所 全天时激光器远场光斑测试设备及其应用
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