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【发明公布】一种FLASH阵列的仿真模型_中国电子科技集团公司第五十八研究所_202410649563.7 

申请/专利权人:中国电子科技集团公司第五十八研究所

申请日:2024-05-24

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN118228650A

主分类号:G06F30/33

分类号:G06F30/33

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.21#公开

摘要:本发明涉及微电子集成电路技术领域,特别涉及一种FLASH阵列的仿真模型。包括:Verilog‑A模块和FLASH阵列,FLASH阵列为具有i行和j列的FLASH单元阵列,其中每个FLASH单元包括:MOS管P1和MOS管P2;MOS管P1的源端与MOS管P2的漏端相连,MOS管P1和MOS管P2的衬底端互连,位线端口BL与MOS管P1的漏端相连,衬底端口B与MOS管P1和MOS管P2的衬底端相连,电压输出端口Vout与MOS管P2的栅端相连,源线端口SL与MOS管P2的源端相连。本发明可根据编程、擦除条件精准匹配存储单元的权重数据,用于存算一体芯片仿真验证。

主权项:1.一种FLASH阵列的仿真模型,其特征在于,包括:Verilog-A模块,包括:时钟线端口CLK、字线端口WL、位线端口BL、源线端口SL和衬底端口B和电压输出端口Vout;FLASH阵列,为具有i行和j列的FLASH单元阵列,其中i=1,2,···,n;j=1,2,···,n;n为大于等于1的正整数;其中每个FLASH单元包括:MOS管P1和MOS管P2;MOS管P1的源端与MOS管P2的漏端相连,MOS管P1和MOS管P2的衬底端互连,位线端口BL与MOS管P1的漏端相连,衬底端口B与MOS管P1和MOS管P2的衬底端相连,电压输出端口Vout与MOS管P2的栅端相连,源线端口SL与MOS管P2的源端相连。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国电子科技集团公司第五十八研究所 一种FLASH阵列的仿真模型

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