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【发明授权】一种通过建立QSAR模型预测液晶分子双折射率的方法_中节能万润股份有限公司_202110801906.3 

申请/专利权人:中节能万润股份有限公司

申请日:2021-07-15

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN113506598B

主分类号:G16C60/00

分类号:G16C60/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.21#授权;2021.11.02#实质审查的生效;2021.10.15#公开

摘要:本发明涉及一种通过建立QSAR模型预测液晶分子双折射率的方法,包括以下步骤:建立一个包含待预测液晶分子中相应结构的数据集;使用gaussview软件构建数据集中每个化合物的初始结构,使用gaussian09优化结构;使用dragon7软件计算描述符;使用QSARINS软件筛选描述符,输入双折射率实验数据;数据集中的液晶分子按照6:1拆分为训练集和验证集;使用QSARINS软件逐步回归分析,建立多元线性关系模型;获得回归方程;对模型进行应用。可快速高效地预测液晶分子的双折射率,成本低廉、简便快速,减少化学合成及测试所消耗的人力、物力、财力及时间。

主权项:1.一种通过建立QSAR模型预测液晶分子双折射率的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,通过查阅各类文献,搜集实验数据,排查重复数据,建立一个包含待预测液晶分子中相应结构的数据集;步骤2,使用gaussview软件构建数据集中每个化合物的初始结构,使用gaussian09优化结构;步骤3,使用dragon7软件计算描述符;步骤4,使用QSARINS软件筛选描述符,输入双折射率实验数据;步骤5,数据集中的液晶分子按照6:1拆分为训练集和验证集,训练集用于构建预测模型,验证集用于评估模型的外部预测能力;步骤6,以步骤4筛选得到的描述符为自变量,液晶分子双折射率为因变量,使用QSARINS软件逐步回归分析,建立多元线性关系模型;步骤7,根据模型各项评价指标选择拟合度高、稳定性强、外部预测能力强的较优模型,获得如下回归方程:双折射率Δn=0.0518×nCsp+0.1339×Eig13_AEAbo+0.0759×Mor11u+0.068×Mor18u-0.0088×H3s+0.3118步骤8,对模型进行应用,预测其他相似结构液晶分子的双折射率;所述步骤7中,nCsp表示sp杂化的碳原子数;Eig13_AEAbo表示由键级加权的来自增广边缘邻接垫的13号特征值;Mor11u表示未加权的3D分子结构描述符信号11;Mor18u表示未加权的3D分子结构描述符信号18;H3s表示由I-state加权的lag3处的氢自相关指数;所述步骤7中,模型评价指标:R2为拟合模型相关系数,R2adj为校正的拟合模型相关系数,RMSEtr为训练集均方根误差,MAEtr为训练集绝对平均误差,Q2loo为去一法交叉验证系数,R2ext为验证集外部预测相关系数,RMSEext为验证集均方根误差,MAEext为验证集绝对平均误差;模型的拟合能力由R2、R2adj、RMSEtr以及MAEtr表征,R2与R2adj越大越好,RMSEtr与MAEtr越小越好,R20.6表示模型具有良好的拟合能力,该模型R2=0.9221,R2adj=0.9172,RMSEtr=0.0423,MAEtr=0.0328,表示具有良好的拟合能力;模型的稳健性由内部验证的交叉验证系数Q2loo评价,Q2loo越大越好,该模型Q2loo=0.9099,表示具有良好的稳健性;模型的外部预测能力由R2ext、RMSEext以及MAEext表征,R2ext越大越好,RMSEext与MAEext越小越好,该模型R2ext=0.9094,RMSEext=0.0424,MAEext=0.0317,表示具有良好的外部预测能力。

全文数据:

权利要求:

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