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申请/专利权人：北京蓝威技术有限公司;北京航空航天大学
申请日：2024-04-17
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN118244080A
主分类号：G01R31/26
分类号：G01R31/26
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.25#公开
摘要：本发明涉及一种用于处理功率半导体器件IGBT性能稳定性的方法，属于半导体器件制造处理技术领域，本发明确保了功率半导体器件IGBT性能稳定性，处理过程简单易操作。本发明的方法对功率半导体器件IGBT性能稳定性处理时，使用距离百分比数据集采用了性能参数检测值与标称值或均值的距离，使得获得功率半导体器件IGBT稳定性状态时，不会出现无法获取状态值的情况，在每个检测值相等且等于标称值或均值的情况下，仍然能够进行稳定性状态的获取，并用于处理功率半导体器件IGBT性能稳定性。增加了方法的准确性、操作性和适用性，提高了处理功率半导体器件IGBT的整体稳定性。
主权项：1.一种用于处理功率半导体器件IGBT性能稳定性的方法，其特征在于，具体步骤为：步骤1、抽样多个功率半导体器件IGBT；获取每个功率半导体器件IGBT的参数检测值；基于参数检测值获得功率半导体器件IGBT的参数检测绝对距离数据集；并获取功率半导体器件IGBT的参数约束范围；步骤2、处理步骤1的功率半导体器件IGBT的参数检测差值数据集和参数约束范围，获得距离百分比数据集；步骤3、处理距离百分比数据集获取距离百分比数据集的均值；步骤4、处理距离百分比数据集的均值获得距离百分比标准差；步骤5、处理距离百分比数据集的均值和距离百分比标准差，获取功率半导体器件IGBT的单性能参数稳定性状态；步骤6、处理功率半导体器件IGBT的性能参数稳定性状态，确定功率半导体器件IGBT的稳定性。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京蓝威技术有限公司;北京航空航天大学 一种用于处理功率半导体器件IGBT性能稳定性的方法
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