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申请/专利权人：南京航天工业科技有限公司
申请日：2024-05-28
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN118249810A
主分类号：H03M1/10
分类号：H03M1/10
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.25#公开
摘要：本发明公开了一种用于多通道ADDA芯片测试的方法及系统，该方法基于测试系统实现，该方法包括如下步骤：开启测试系统，进行系统自检，调用系统补偿模块进行系统参数补偿；采集并评估环境参数，并基于环境参数调用自适应补偿模块和测试条件评估模块，获得环境补偿参数和测试条件评估结果；响应输入的测试基础数据，并结合系统参数补偿、环境补偿参数和测试条件评估结果，调用预配置的动态调度算法模块，生成测试参数并发送到信号发生装置；接收信号分析装置的测试数据，并采用预配置的自动化分析模块分析测试数据并输出测试结果；获取测试过程参数和测试结果，对测试方案进行反馈和评分，并输入上位机。本方法提高了测试效率和准确率。
主权项：1.用于多通道ADDA芯片测试的方法，基于测试系统实现，测试系统包括通信连接的上位机、信号发生装置、待测装置和信号分析装置，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、开启测试系统，进行系统自检，调用系统补偿模块进行系统参数补偿；步骤S2、采集并评估环境参数，并基于环境参数调用自适应补偿模块和测试条件评估模块，获得环境补偿参数和测试条件评估结果；步骤S3、响应输入的测试基础数据，并结合系统参数补偿、环境补偿参数和测试条件评估结果，调用预配置的动态调度算法模块，生成测试参数并发送到信号发生装置；步骤S4、接收信号分析装置的测试数据，并采用预配置的自动化分析模块分析测试数据并输出测试结果；步骤S5、获取测试过程参数和测试结果，对测试方案进行反馈和评分，并输入上位机。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 南京航天工业科技有限公司 用于多通道AD/DA芯片测试的方法及系统
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