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一种生成测试方案的方法及系统 

申请/专利权人:盛景智能科技(嘉兴)有限公司

申请日:2021-01-21

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN112685324B

主分类号:G06F11/36

分类号:G06F11/36;G06F40/289;G06F18/22;G06F18/23213

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.28#授权;2023.06.09#专利申请权的转移;2021.05.07#实质审查的生效;2021.04.20#公开

摘要:本发明提供一种生成测试方案的方法及系统,包括:基于相似度计算方法计算目标测试需求的特征和测试用例库中每个测试用例样本的特征之间的相似度;根据所述相似度,选择测试用例样本,根据选择的测试用例样本生成测试方案。本发明自动生成一套包含多个测试用例的测试方案,为测试人员提供测试参考,节省测试方案中测试用例的设计时间,增强测试用例样本的可复用性,降低工作成本,提高工作效率。

主权项:1.一种生成测试方案的方法,其特征在于,包括:基于相似度计算方法计算目标测试需求的特征和测试用例库中每个测试用例样本的特征之间的相似度;根据所述相似度选择所述测试用例样本,根据选择的测试用例样本生成测试方案;所述基于相似度计算方法计算目标测试需求的特征和测试用例库中每个测试用例样本的特征之间的相似度,之前还包括:根据测试需求库中测试需求样本的分类、所述测试用例样本的分类和测试缺陷库中测试缺陷样本的分类,获取所述测试需求样本、测试用例样本和测试缺陷样本之间的关联关系;从所述测试需求库中查找所述目标测试需求,若查找到,则根据所述关联关系获取所述目标测试需求对应的所述测试缺陷样本;统计所述目标测试需求对应的所述测试缺陷样本的缺陷分布情况,将所述缺陷分布情况作为所述目标测试需求的缺陷分布情况;根据所述关联关系获取每个测试用例样本对应的测试缺陷样本;统计每个测试用例样本对应的测试缺陷样本的数量,将所述数量作为每个测试用例样本的缺陷数量。

全文数据:

权利要求:

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