申请/专利权人：上海华岭集成电路技术股份有限公司

申请日：2024-03-18

公开（公告）日：2024-06-28

公开（公告）号：CN117907809B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01R31/01

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.28#授权;2024.05.07#实质审查的生效;2024.04.19#公开

摘要：本公开提供一种批量芯片测试方法、装置及电子设备，所述方法包括：对待测芯片从第1测试项到第n测试项进行逐项测试，其中，n为大于1的自然数；当第i测试项测试通过时，则对所述待测芯片的第i+1测试项进行测试，1≤i≤n‑1，直至第n测试项通过，判定所述待测芯片为合格芯片；当第i测试项测试报错时，判断所述第i测试项是否为具有回收价值的测试项，当所述第i测试项为不具有回收价值的测试项时，停止所述待测芯片测试，判定所述待测芯片为不良芯片，当所述第i测试项为具有回收价值的测试项，则对该第i测试项进行自动复测。

主权项：1.一种批量芯片测试方法，对多个芯片逐一进行测试，其特征在于包括：对待测芯片从第1测试项到第n测试项进行逐项测试，其中，n为大于1的自然数；当第i测试项测试通过时，则对所述待测芯片的第i+1测试项进行测试，1≤i≤n-1，直至第n测试项通过，判定所述待测芯片为合格芯片；当第i测试项测试报错时，判断所述第i测试项是否为具有回收价值的测试项，当所述第i测试项为不具有回收价值的测试项时，停止所述待测芯片测试，判定所述待测芯片为不良芯片，当所述第i测试项为具有回收价值的测试项，则对该第i测试项进行自动复测；判断所述第i测试项是否为具有回收价值的测试项，包括：基于样本芯片测试获得第一样本数据集和第二样本数据集，其中，所述第一样本数据集中的样本芯片的所有测试项均未报错，所述第二样本数据集中的样本芯片至少有一项测试项报错；对所述第二样本数据集中所有报错的样本芯片进行复测，形成统计数据集；基于所述统计数据集确定每一测试项的回收价值；当所述第i测试项属于所述第二样本数据集且所述第i测试项的回收价值不低于预设回收阈值时，所述第i测试项为具有回收价值的测试项，否则，所述第i测试项为不具有回收价值的测试项；对所述第二样本数据集中所有报错的样本芯片进行复测，形成统计数据集，包括：对所述第二样本数据集中所有报错的样本芯片的所有测试项进行复测，形成统计数据集，所述统计数据集包括以下至少一项：复测测试项全部通过数据；复测报错测试项仍然未通过数据；复测新增测试项数据；所述基于所述统计数据集确定每一测试项的回收价值Pi，包括：其中，Ai表示第i测试项的回收系数，N1表示复测测试项全部通过数据，N2表示复测报错测试项仍然未通过数据，N3表示复测新增测试项数据。

全文数据：

权利要求：

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