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申请/专利权人：华龙国际核电技术有限公司
摘要：本发明提供一种设备鉴定方法及装置，该方法包括：基于待测试设备集的寿命周期的可靠性参数，确定所述待测试设备集在寿命测试中的测试数量以及在预设负荷参数下的模拟测试时间；其中，所述预设负荷参数与所述寿命周期相关，所述待测试设备集中包括至少一个待测试设备；基于所述模拟测试时间和所述测试数量对所述待测试设备集进行寿命测试，获得第一测试结果；基于所述第一测试结果，对所述待测试设备集的寿命周期的可靠性进行鉴定。本发明实施例能够提高设备鉴定的质量可靠性，保证设备具有可信的寿命周期。
主权项：1.一种设备鉴定方法，其特征在于，所述方法包括：基于待测试设备集的寿命周期的可靠性参数，确定所述待测试设备集在寿命测试中的测试数量以及在预设负荷参数下的模拟测试时间；其中，所述预设负荷参数与所述寿命周期相关，所述待测试设备集中包括至少一个待测试设备；基于所述模拟测试时间和所述测试数量对所述待测试设备集进行寿命测试，获得第一测试结果；基于所述第一测试结果，对所述待测试设备集的寿命周期的可靠性进行鉴定；所述可靠性参数包括A和B，所述基于待测试设备集的寿命周期的可靠性参数，确定所述待测试设备集在寿命测试中的测试数量以及在预设负荷参数下的模拟测试时间，包括：根据确定所述待测试设备集在寿命测试中的测试数量以及在预设负荷参数下的模拟测试时间；其中，所述n为所述待测试设备集在寿命测试中的测试数量，所述t为所述待测试设备集在预设负荷参数下的实际测试时间，所述实际测试时间用于确定所述待测试设备集在预设负荷参数下的模拟测试时间，所述T为所述待测试设备集的寿命周期，所述β为韦布尔行为因子；所述A为可靠度指标，所述B为置信度指标。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华龙国际核电技术有限公司 一种设备鉴定方法及装置
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