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微波大量程高精度位移测量方法、系统、装置及介质 

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申请/专利权人:上海交通大学

摘要:本发明提供了一种微波大量程高精度位移测量方法、系统、装置及介质,包括:利用成像方法对微波收发器基带信号进行处理,得到距离‑时间像和角度‑时间像,并提取待测目标运动的距离‑时间脊线和角度‑时间脊线;利用提取的待测目标运动的距离‑时间脊线和角度‑时间脊线对微波收发器基带信号进行解调;对解调信号进行成像或者直接计算第0个距离单元和第0个角度单元的相位演变追踪,提取待测目标的位移。本发明实现了基于多通道的FMCW的大量程位移的高精度测量;避免了对目标运动模型的依赖性;本发明克服了现有的微波位移测量技术无法实现目标大量程位移的高精度测量的难题;拓宽了微波位移测量技术的适用范围和应用空间。

主权项:1.一种微波大量程高精度位移测量方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:步骤S1:利用成像方法对微波收发器基带信号进行处理,得到距离-时间像和角度-时间像,并提取待测目标运动的距离-时间脊线和角度-时间脊线;步骤S2:利用提取的待测目标运动的距离-时间脊线和角度-时间脊线对微波收发器基带信号进行解调;步骤S3:对解调后的基带信号进行成像或者直接计算第0个距离单元和第0个角度单元的相位演变追踪,提取待测目标的位移。

全文数据:

权利要求:

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