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申请/专利权人：北京晶宇兴科技有限公司
摘要：本实用新型提出一种高精度晶振测试装置,包括：测试盒；所述测试盒内开设有贯通的上下料通道，所述测试盒的侧面开设有与上下料通道连通的测试口，所述测试盒上安装有位于上下料通道内的条块以及用于驱动条块出入上下料通道的驱动件，所述条块内开设有若干个间隔布置的插槽，所述条块上穿接有若干个分别伸入若干个插槽内的弹性限位件；所述测试盒上安装有位于测试口一侧的测试组件。本实用新型提出一种高精度晶振测试装置，解决了难以实现对晶振的快速上下料的问题。
主权项：1.一种高精度晶振测试装置，其特征在于,包括：测试盒1；所述测试盒1内开设有贯通的上下料通道，所述测试盒1的侧面开设有与上下料通道连通的测试口2，所述测试盒1上安装有位于上下料通道内的条块3以及用于驱动条块3出入上下料通道的驱动件，所述条块3内开设有若干个间隔布置的插槽4，所述条块3上穿接有若干个分别伸入若干个插槽4内的弹性限位件5；所述测试盒1上安装有位于测试口2一侧的测试组件6。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京晶宇兴科技有限公司 一种高精度晶振测试装置
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