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申请/专利权人：中国运载火箭技术研究院;北京航天长征飞行器研究所
申请日：2019-09-03
公开（公告）日：2019-12-20
公开（公告）号：CN110596488A
主分类号：G01R31/00(20060101)
分类号：G01R31/00(20060101);G01R31/28(20060101)
优先权：
专利状态码：失效-发明专利申请公布后的驳回
法律状态：2022.10.18#发明专利申请公布后的驳回;2020.01.14#实质审查的生效;2019.12.20#公开
摘要：一种基于HPI接口的DSP电离总剂量辐射效应检测装置，包括DSP测试板、FPGA控制系统和底板硬件系统，所述DSP测试板由待测DSP芯片及其正常工作所需的外围电路组成，DSP测试板使待测DSP器件处于正常工作状态；所述FPGA控制系统通过HPI总线与DSP测试板进行连接，加载测试程序和接收测试数据，并对测试结果进行存储，通过RS422总线与上位机进行连接，实现上位机和所述FPGA控制系统之间数据交互；底板硬件系统由供电模块、电流和电压检测模块和接口检测模块组成，供电模块是将220V交流电转化为FPGA控制系统和DSP测试板的各器件工作所需的直流电压。本发明便携，一人就可完成携带和试验测试操作，便于电离总剂量辐照现场试验开展与实施。
主权项：1.一种基于HPI接口的DSP电离总剂量辐射效应检测装置，包括DSP测试板、FPGA控制系统和底板硬件系统，其特征在于，所述DSP测试板由待测DSP芯片及其正常工作所需的外围电路组成，DSP测试板使待测DSP器件处于正常工作状态；所述FPGA控制系统通过HPI总线与DSP测试板进行连接，加载测试程序和接收测试数据，并对测试结果进行存储，通过RS422总线与上位机进行连接，实现上位机和所述FPGA控制系统之间数据交互；底板硬件系统由供电模块、电流和电压检测模块和接口检测模块组成，供电模块是将220V交流电转化为FPGA控制系统和DSP测试板的各器件工作所需的直流电压；电流和电压检测模块测量DSP测试板的供电电流、供电电压、IO接口电流、IO接口电压；接口检测模块可检测DSP测试板的McBSP接口和EMIF接口功能。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国运载火箭技术研究院;北京航天长征飞行器研究所 基于HPI接口的DSP电离总剂量辐射效应检测装置
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