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申请/专利权人：飞腾信息技术有限公司
申请日：2024-05-10
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN118150987A
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.25#实质审查的生效;2024.06.07#公开
摘要：本发明公开了一种芯片老炼测试方法、系统及相关设备，该方法包括：FPGA模块向老炼模块发送老炼信号；伪随机数生成器响应于老炼信号持续生成伪随机数；多路选择器将M条第一扫描链的输入端分别与伪随机数生成器的输出端导通；寄存器接收伪随机数生成器发送的伪随机数；寄存器通过第一扫描链将伪随机数传输至待测芯片的各个待测试节点；FPGA模块接收第一扫描链的输出端输出的老炼测试的反馈数据，并根据反馈数据确定老炼测试的测试结果。本方案能够源源不断的产生测试向量，反复进行测试向量的输入，延长了老炼测试时间。此外，将M条第一扫描链的输入端分别与伪随机数生成器的输出端导通，替代了大量的测试通道，降低了IO资源的使用。
主权项：1.一种芯片老炼测试方法，其特征在于，所述方法应用于芯片老炼测试系统，所述系统包括FPGA模块、老炼模块和待测芯片，所述老炼模块位于所述待测芯片内部，所述FPGA模块和所述老炼模块通信连接，所述老炼模块包括伪随机数生成器、由多个寄存器连接组成的M（M≥2）条第一扫描链和与所述第一扫描链的输入端连接的多路选择器，所述方法包括：在所述老炼模块根据所述FPGA模块发出的测试使能指令进入测试模式之后，所述FPGA模块向所述老炼模块发送老炼信号；所述伪随机数生成器响应于所述老炼信号持续生成伪随机数；所述多路选择器响应于所述老炼信号，将所述M条第一扫描链的输入端分别与所述伪随机数生成器的输出端导通；响应于从所述FPGA模块接收到的扫描使能信号，所述寄存器激活扫描功能，并接收所述伪随机数生成器发送的伪随机数；所述寄存器通过所述第一扫描链将所述伪随机数传输至所述待测芯片的各个待测试节点，以对所述待测试节点进行老炼测试；所述FPGA模块接收所述第一扫描链的输出端输出的老炼测试的反馈数据，并根据所述反馈数据确定所述老炼测试的测试结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 飞腾信息技术有限公司 一种芯片老炼测试方法、系统及相关设备
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