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申请/专利权人：深圳新益昌科技股份有限公司
申请日：2024-03-13
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN118154439A
主分类号：G06T5/50
分类号：G06T5/50;G06T7/11;G06T7/70
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.25#实质审查的生效;2024.06.07#公开
摘要：本申请公开了一种晶元MAP图更新方法、更新装置、电子设备及存储介质，该方法包括获取多个晶元的多张晶元图像，每张晶元图像包含多个晶元中的部分晶元的部分晶元图像；根据多张晶元图像生成当前晶元MAP图，当前晶元MAP图包含多个晶元的当前晶元图像，当前晶元图像标识有不良晶元图像；基于当前晶元MAP图，对多个晶元的初始晶元MAP图进行更新，得到目标晶元MAP图，初始晶元MAP图包含多个晶元的初始晶元图像，目标晶元MAP图基于不良晶元图像对初始晶元图像进行更新得到。本方法实现了基于实时获取到包含不良晶元图像的当前晶元MAP图对初始晶元MAP图进行更新，可提高封装产品的产品合格率。
主权项：1.一种晶元MAP图更新方法，其特征在于，包括：获取多个晶元的多张晶元图像，每张晶元图像包含多个晶元中的部分晶元的部分晶元图像；根据多张晶元图像生成当前晶元MAP图，所述当前晶元MAP图包含多个晶元的当前晶元图像，所述当前晶元图像标识有不良晶元图像；基于所述当前晶元MAP图，对多个晶元的初始晶元MAP图进行更新，得到目标晶元MAP图，所述初始晶元MAP图包含多个晶元的初始晶元图像，所述目标晶元MAP图基于所述不良晶元图像对所述初始晶元图像进行更新得到。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳新益昌科技股份有限公司 晶元MAP图更新方法、更新装置、电子设备及存储介质
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