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申请/专利权人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
申请日：2024-03-18
公开（公告）日：2024-06-11
公开（公告）号：CN118162742A
主分类号：B23K26/082
分类号：B23K26/082;G02B26/10;B23K26/70;B08B7/00;G01M11/00
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.28#实质审查的生效;2024.06.11#公开
摘要：本申请提供一种激光扫描幅面校准方法、装置及相关设备。该激光扫描幅面校准方法包括在激光加工设备的多个预设的扫描幅面校准类型中，获取当前选择的目标扫描幅面校准类型；若所述目标扫描幅面校准类型为全幅面校准，则获取所述激光加工设备所使用透镜的透镜类型；基于所述透镜类型，确定所述激光加工设备的最大扫描幅面；将所述最大扫描幅面进行分段校准，得到目标占比参数与实际设置扫描幅面的二维关系数组，所述目标占比参数表征为所述激光加工设备所有预期输出的目标扫描幅面与最大扫描幅面的第一比值；基于所述二维关系数组，对所述激光加工设备的扫描幅面进行校准。
主权项：1.一种激光扫描幅面校准方法，其特征在于，所述方法包括：在激光加工设备的多个预设的扫描幅面校准类型中，获取当前选择的目标扫描幅面校准类型；若所述目标扫描幅面校准类型为全幅面校准，则获取所述激光加工设备所使用透镜的透镜类型；基于所述透镜类型，确定所述激光加工设备的最大扫描幅面；将所述最大扫描幅面进行分段校准，得到目标占比参数与实际设置扫描幅面的二维关系数组，所述目标占比参数表征为所述激光加工设备所有预期输出的目标扫描幅面与最大扫描幅面的第一比值；基于所述二维关系数组，对所述激光加工设备的扫描幅面进行校准。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司 激光扫描幅面校准方法、装置及相关设备
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