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【发明公布】一种混合应变量子阱半导体光放大器及其制备方法_山东华光光电子股份有限公司_202410619709.3 

申请/专利权人:山东华光光电子股份有限公司

申请日:2024-05-20

公开(公告)日:2024-06-14

公开(公告)号:CN118198865A

主分类号:H01S5/34

分类号:H01S5/34;H01S5/343

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.14#公开

摘要:本发明涉及一种混合应变量子阱半导体光放大器及其制备方法,属于光电子技术领域。由下至上依次包括衬底、缓冲层、下限制层、下波导层、第一量子阱、第一垒层、第二量子阱、第二垒层、第三量子阱、第三垒层、第四量子阱、第四垒层、第五量子阱、上波导层、上限制层A、腐蚀阻挡层、上限制层B、带隙过渡层和帽层;本发明采用张应变及压应变交替生长的混合多量子阱实现TE模式和TM模式增益平衡,进而实现与偏振无关的红光半导体光放大器,同时利用垒层交替补偿,平衡有源区应力,避免晶格常数差异对量子阱生长质量的影响。

主权项:1.一种混合应变量子阱半导体光放大器,其特征在于,由下至上依次包括衬底、缓冲层、下限制层、下波导层、Gax3In1-x3P第一量子阱、(Alx4Ga1-x4)y2In1-y2P第一垒层、Gax5In1-x5P第二量子阱、(Alx6Ga1-x6)y3In1-y3P第二垒层、Gax7In1-x7P第三量子阱、(Alx8Ga1-x8)y4In1-y4P第三垒层、Gax9In1-x9P第四量子阱、(Alx10Ga1-x10)y5In1-y5P第四垒层、Gax11In1-x11P第五量子阱、上波导层、上限制层A、腐蚀阻挡层、上限制层B、带隙过渡层和帽层;其中,0.35≤x3≤0.5,0.35≤x4≤0.55,0.55≤x5≤0.65,0.35≤x6≤0.55,0.35≤x7≤0.5,0.35≤x8≤0.55,0.55≤x9≤0.65,0.35≤x10≤0.55,0.35≤x11≤0.5;0.52≤y2≤0.6,0.4≤y3≤0.52,0.52≤y4≤0.6,0.4≤y5≤0.52;x3、x7、x11取值小于0.5,为压应变量子阱,厚度小于4nm,TE模式占主导地位,x5、x9取值大于0.55,为张应变量子阱,厚度大于10nm,TM模式占主导地位;y2、y4取值大于0.52,垒层受张应变,y3、y5取值小于0.52,垒层受压应变。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 山东华光光电子股份有限公司 一种混合应变量子阱半导体光放大器及其制备方法

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