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申请/专利权人：北京电子工程总体研究所
申请日：2021-06-24
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN113887009B
主分类号：G06F30/20
分类号：G06F30/20;G06F119/02;G06F119/04;G06F119/14
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.21#授权;2022.01.21#实质审查的生效;2022.01.04#公开
摘要：本发明实施例公开一种定数截尾试验加速失效机理一致性检验方法、系统、存储介质和计算机设备，在一个具体实施例中，所述方法包括确定正常应力水平、正常应力水平下所服从的威布尔失效分布的形状参数，和进行加速失效机理一致性检验的置信度水平；确定加速试验的应力水平，在该应力水平下开展定数截尾试验并收集一组样本量为n的试验数据；确定关于形状参数的检验统计量，并分析其性质；计算所述置信度水平下的判定区间；计算所述样本的对应的形状参数检验统计量并与判定区间进行比较，判断当前应力水平是否满足加速失效机理一致性假设。
主权项：1.一种定数截尾试验加速失效机理一致性检验方法，其特征在于，包括S1、确定产品正常工作的应力水平、正常应力水平下威布尔失效分布的形状参数，和进行加速失效机理一致性检验的置信度水平；S2、确定加速试验的应力水平，在该应力水平下开展定数截尾试验并收集一组样本量为n的试验数据；S3、确定关于威布尔形状参数的检验统计量，并分析其性质；S4、计算所述置信度水平下的判定区间；S5、计算所述样本对应的形状参数的检验统计量并与判定区间进行比较，判断当前应力水平是否满足加速失效机理一致性假设；所述样本量为n的失效数据服从威布尔失效分布；所述关于威布尔失效分布形状参数的检验统计量为： 其中，m0为形状参数，Xj和Xi+1分别为按失效时间从小到大排列的第j个和第i+1个样本，1≤j≤i，1≤i≤n-1；所述关于形状参数的检验统计量Tm0服从自由度为2n-2的卡方分布；求解所述置信度水平下的判定区间包括：利用给定的置信度水平，基于最大密度区域理论，构造方程组： 其中L和U分别表示判定区间下限和判定区间上限，表示自由度为y的卡方分布概率密度函数，1-α为置信度水平；根据所述方程组直接求解判定区间[L,U]。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京电子工程总体研究所 一种定数截尾试验加速失效机理一致性检验方法
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