申请/专利权人：普罗斯通信技术(苏州)有限公司

申请日：2020-10-27

公开（公告）日：2024-06-21

公开（公告）号：CN114499708B

主分类号：H04B17/15

分类号：H04B17/15;H04B17/29

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.21#授权;2022.12.27#著录事项变更;2022.05.31#实质审查的生效;2022.05.13#公开

摘要：本发明揭示了一种射频拉远单元的测试系统及方法，系统包括测试信号输入单元、待测射频拉远单元和测试信号分析单元，测试信号输入单元向射频拉远单元的上行链路中输入测试信号，上行链路对测试信号处理后输入至射频拉远单元的数字信号处理模块中，数字信号处理模块将测试信号在内部数字环回后输出至射频拉远单元的下行链路中，下行链路将测试信号处理后输送至测试信号分析单元中，测试信号分析单元根据测试信号获取射频拉远单元的技术指标。本发明通过将测试信号在数字信号处理模块中进行数字环回，无需使用基带处理单元便可实现对射频拉远单元进行各项技术指标的测试。

主权项：1.一种射频拉远单元的测试系统，其特征在于，所述系统包括测试信号输入单元、待测射频拉远单元和测试信号分析单元，所述待测射频拉远单元包括上行链路、下行链路和与所述上行链路、下行链路相连的数字信号处理模块，所述上行链路用于对测试信号进行处理并输入至数字信号处理模块中，所述数字信号处理模块用于将上行链路输入的测试信号在内部数字环回后输出至下行链路中，所述下行链路用于将测试信号处理后输送至测试信号分析单元；所述测试信号输入单元与所述上行链路相连，用于向所述上行链路中输入测试信号；所述测试信号分析单元与所述下行链路相连，用于接收测试信号并根据测试信号获取射频拉远单元的技术指标；其中，所述数字信号处理模块包括JESD接收端口、DDC模块、DUC模块和JESD发射端口，所述JESD接收端口将测试信号环回至JESD发射端口，或者所述JESD接收端口将测试信号发射至DDC模块，所述DDC模块将测试信号环回至DUC模块，所述DUC模块通过JESD发射端口输出；所述测试信号输入单元包括用于产生上、下行链路测试信号的信号源，所述测试信号分析单元包括频谱仪，所述信号源在配置测试频率后通过线缆连接至频谱仪进行线缆插入损耗校准并分别补偿至信号源和频谱仪中；或者所述测试信号输入单元包括用于产生上行接收链路噪声系数测试信号的噪声源，所述测试信号分析单元包括噪声仪或具有噪声系数测试功能的频谱仪。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 普罗斯通信技术(苏州)有限公司 一种射频拉远单元的测试系统及方法

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