首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

【发明授权】使用单颗粒电感耦合等离子体质谱(SP-ICP-MS)自动检测纳米颗粒_安捷伦科技有限公司_201911023526.0 

申请/专利权人:安捷伦科技有限公司

申请日:2019-10-25

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN111105979B

主分类号:H01J49/00

分类号:H01J49/00;H01J49/02;G01N27/626

优先权:["20181026 US 62/751,259"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.21#授权;2021.11.12#实质审查的生效;2020.05.05#公开

摘要:通过单颗粒电感耦合等离子体质谱spICP‑MS分析样品中诸如纳米颗粒的颗粒。在ICP‑MS系统中处理所述样品以获取对应于离子信号强度与时间的关系的时间扫描数据。从所述时间扫描数据确定信号分布,所述信号分布对应于离子信号强度和测量所述离子信号强度时的频率。将颗粒检测阈确定为所述信号分布的离子信号部分与颗粒信号部分的交点。所述颗粒信号部分对应于所述样品中颗粒的测量,并且所述离子信号部分对应于所述样品中除颗粒之外的组分的测量。所述颗粒检测阈将所述颗粒信号部分与所述离子信号部分分离并且可用于确定关于所述颗粒的数据。

主权项:1.一种用于通过单颗粒电感耦合等离子体质谱spICP-MS分析样品中纳米颗粒的方法,所述方法包括:在ICP-MS系统中处理所述样品以获取原始样品数据,所述原始样品数据对应于通过所述ICP-MS系统的离子检测器测量的随时间变化的离子信号强度;确定所述原始样品数据的信号分布,所述信号分布对应于多个数据点,每个数据点对应于离子信号强度和所述离子检测器测量所述离子信号强度时的频率;并且确定所述信号分布的离子信号部分与所述信号分布的颗粒信号部分的交点作为颗粒检测阈,其中所述颗粒信号部分对应于所述样品中纳米颗粒的测量值,所述离子信号部分对应于所述样品中除纳米颗粒之外的组分的测量值,并且所述颗粒检测阈将所述颗粒信号部分与所述离子信号部分分开。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 安捷伦科技有限公司 使用单颗粒电感耦合等离子体质谱(SP-ICP-MS)自动检测纳米颗粒

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。