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一种纳米约瑟夫森结及其超导器件与制作方法 

申请/专利权人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所

申请日:2022-12-27

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118265441A

主分类号:H10N60/01

分类号:H10N60/01;H10N60/12

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:本发明提供一种纳米约瑟夫森结及其超导器件与制作方法,包括以下步骤:提供一基底;依次形成下电极层、势垒层及上电极层于基底上,势垒层覆盖下电极层,上电极层覆盖势垒层;形成光刻胶层于上电极层的表面并图形化光刻胶层;基于图形化后的光刻胶层刻蚀上电极层;缩小图形化后的光刻胶层;以缩小后的光刻胶层为掩膜刻蚀上电极层以得到上电极;图形化刻蚀势垒层并去除光刻胶层;图形化刻蚀下电极层以得到下电极。本发明的制作方法能够克服光刻机的光刻极限,得到纳米级别的约瑟夫森结,并且在现有技术基础上不需要对掩膜版的设计作出变动,能够有效提升超导电路的集成度和工作频率和稳定性。

主权项:1.一种纳米约瑟夫森结的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:提供一基底;依次形成下电极层、势垒层及上电极层于所述基底上,所述势垒层覆盖所述下电极层,所述上电极层覆盖所述势垒层;形成光刻胶层于所述上电极层的表面并图形化所述光刻胶层;基于图形化后的所述光刻胶层刻蚀所述上电极层;缩小图形化后的所述光刻胶层;以缩小后的所述光刻胶层为掩膜刻蚀所述上电极层以得到上电极;图形化刻蚀所述势垒层并去除所述光刻胶层;图形化刻蚀所述下电极层以得到下电极。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 一种纳米约瑟夫森结及其超导器件与制作方法

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