申请/专利权人：清华大学

申请日：2021-09-23

公开（公告）日：2024-06-28

公开（公告）号：CN114155418B

主分类号：G06V20/00

分类号：G06V20/00;G06V10/28;G06V10/80

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.28#授权;2022.03.25#实质审查的生效;2022.03.08#公开

摘要：本申请实施例公开了一种裂缝探测方法和装置，该方法包括：获取裂缝露头二值图片；将裂缝露头二值图片转化为骨架图；在骨架图中遍历所有裂缝像素点，确定裂缝像素点的类型；类型包括：起止点、中间点、交叉点和融合交叉点；记录每个融合交叉点的每个分支上的有效中间点；遍历所有起止点，根据中间点、交叉点、融合交叉点以及融合交叉点对应的有效中间点，追踪第一类裂缝轨迹；遍历所有融合交叉点，根据中间点和交叉点追踪第二类裂缝轨迹；计算追踪到的裂缝轨迹的裂缝长度和裂缝方向，以将追踪到的裂缝轨迹用线段或者折线段表示。通过该实施例方案，实现了从裂缝露头二值图片中快速、准确地提取裂缝轨迹信息，抗干扰效果好。

主权项：1.一种裂缝探测方法，其特征在于，包括：获取裂缝露头二值图片；将所述裂缝露头二值图片转化为骨架图；在所述骨架图中遍历所有裂缝像素点，并确定每个所述裂缝像素点的类型；所述裂缝像素点的类型包括：起止点、中间点、交叉点和融合交叉点；记录每个融合交叉点的每个分支上的有效中间点；遍历所有所述起止点，以所述起止点为起始追踪点，根据所述中间点、所述交叉点、所述融合交叉点以及所述融合交叉点对应的有效中间点，追踪由两个所述起止点，或者由一个所述起止点和一个所述融合交叉点组成的第一类裂缝轨迹；遍历所有所述融合交叉点，根据所述中间点和所述交叉点追踪由两个所述融合交叉点组成的第二类裂缝轨迹；计算追踪到的每个所述第一类裂缝轨迹和所述第二类裂缝轨迹的裂缝长度和裂缝方向，以将所述第一类裂缝轨迹和所述第二类裂缝轨迹用线段或者折线段表示；所述在所述骨架图中遍历所有裂缝像素点，并确定每个所述裂缝像素点的类型，包括：对所述骨架图中任意的第一裂缝像素点的距离最近的预设个数的相邻像素点中的第二裂缝像素点进行计数；当所述第二裂缝像素点的数目为1时，则将所述第一裂缝像素点确定为起止点；当所述第二裂缝像素点的数目为2时，如果该两个所述第二裂缝像素点与所述第一裂缝像素点之间的夹角大于或等于a度，则将所述第一裂缝像素点确定为中间点，如果该两个所述第二裂缝像素点与所述第一裂缝像素点之间的夹角小于a度，则将所述第一裂缝像素点确定为交叉点；a等于135；当所述第二裂缝像素点的数目大于或等于3时，则将所述第一裂缝像素点确定为交叉点；在裂缝交叉位置处，遍历所有所述交叉点，将所述交叉点之间的间隔距离小于b个像素长度的交叉点融合成所述融合交叉点；其中，所述融合交叉点由间隔距离小于b个像素长度的交叉点的形心坐标取整组成；b为正整数。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 清华大学 一种裂缝探测方法和装置

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